A. カーブトレーサ/半導体パラメータアナライザは、半導体素子の入出力特性を評価するための測定器です。
半導体素子に電圧もしくは、電流を入力して変化させ、出力特性をグラフ化することができます。オリックス・レンテックではカーブトレーサ/半導体パラメータアナライザをレンタルでご提供しております。詳しくはこちらをご確認ください。